[发明专利]一种线激光层析检测系统在审
| 申请号： | 201910024366.5 | 申请日： | 2019-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN111426689A | 公开（公告）日： | 2020-07-17 |
| 发明（设计）人： | 周玉兰;王瑞;陈超;万楚豪;杨秋松;王锐;郑增超 | 申请（专利权）人： | 武汉光谷航天三江激光产业技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 刘杰 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种线激光层析检测系统，所述检测系统包括：激光发生装置，所述激光发生装置发射脉冲可见点激光；激光传导系统，所述激光传导系统位于所述激光发生装置的输出端，将所述点激光转换为线激光；激光扫描系统，所述激光扫描系统位于激光传导系统之中，对所述线激光进行扫描，使其漫反射至待检测物体表面上；激光控制系统，所述激光控制系统位于所述激光传导系统的输出端，对光信号进行通断控制；激光探测系统，所述激光探测系统位于所述激光控制系统的输出端，接收所述漫反射的线激光。通过采用三角测距技术实现了近距离微小尺寸的测量，通过采用线激光扫描方式，提高了测量效率，同时通过采用高速快门，消除了环境中的粉尘干扰问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 层析 检测 系统 | ||
【主权项】：
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