[发明专利]线缆检测方法、装置及电子设备有效
| 申请号： | 201910026554.1 | 申请日： | 2019-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN109596944B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 易国锴 | 申请（专利权）人： | 上海仁童电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/08 | 分类号： | G01R31/08 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 200235 上海市徐汇区中山西*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种线缆检测方法、装置及电子设备，不需要增加额外硬件消耗，能够直接利用测量得到的反射系数和正向传输系数，得到因检测设备与待测线缆连接部分造成的接入插损数据，以及由待测线缆自身造成的线缆衰减数据，以便利用该接入插损数据，对反射系数进行插损校正，剔除反射系数中的接入能量损失，得到因待测线缆自身因素，而产生的反射系数的时域冲击表达式，这样，利用得到的线缆衰减数据，对该时域冲击表达式同时进行时域和频域的衰减校正，得到待测线缆的等效反射系数序列，该等效反射系数序列能够直观反映待测线缆的近端和远端的故障程度，且能够定量描述待测线缆质量，得到准确且全面的检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 线缆 检测 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种线缆检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测线缆的反射系数和正向传输系数；基于所述反射系数及所述正向传输系数进行插损计算，得到所述待测线缆的接入插损数据和线缆衰减数据；利用所述接入插损数据，对所述反射系数进行插损校正，并利用插损校正后的反射系数，得到所述待测线缆的时域冲击表达式，所述时域冲击表达式能够表明所述待测线缆的等效反射系数与所述线缆衰减数据之间的关系；利用所述线缆衰减数据，对所述时域冲击表达式同时进行时域衰减校正和频域衰减校正，基于校正结果得到所述待测线缆的等效反射系数序列；利用所述等效反射系数序列，得到所述待测线缆的检测结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海仁童电子科技有限公司，未经上海仁童电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910026554.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
