[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201910057593.8 申请日: 2019-01-22
公开(公告)号: CN110071106A 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 渕上千加志 申请(专利权)人: 拉碧斯半导体株式会社
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨文娟;臧建明
地址: 日本神奈川县横滨市港北区新*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种可减少形成在半导体装置上的电路元件的面积的半导体装置。半导体装置包括:第1导电型区域,形成在基板上且形成有由绝缘膜包围的电阻元件;第2导电型区域,与电阻元件的上表面接触并层叠形成;电容器,经由层间绝缘层而形成在电阻元件上;过孔,将电阻元件的一端子及电容器的一端子电性串联连接;以及电源线及接地线,与电阻元件的另一端子及电容器的另一端子分别电性连接。
搜索关键词: 电阻元件 半导体装置 电容器 第1导电型区域 层间绝缘层 导电型区域 电路元件 电性连接 端子电性 电源线 接地线 绝缘膜 上表面 基板 包围
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于包括:基板;第1导电型区域,形成在所述基板上且形成有由绝缘膜包围的电阻元件;第2导电型区域,与所述电阻元件的上表面接触并层叠形成;电容器,经由层间绝缘层而形成在所述电阻元件上;过孔,将所述电阻元件的一端子及所述电容器的一端子电性串联连接;以及电源线及接地线,与所述电阻元件的另一端子及所述电容器的另一端子分别电性连接。
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