[发明专利]垂直存储器装置及其制造方法在审
申请号: | 201910085568.0 | 申请日: | 2019-01-29 |
公开(公告)号: | CN110391248A | 公开(公告)日: | 2019-10-29 |
发明(设计)人: | 孙荣晥;金森宏治;姜信焕;权永振 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/1157 | 分类号: | H01L27/1157;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 尹淑梅;刘灿强 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 公开了一种垂直存储器装置及其制造方法。该垂直存储器装置包括位于基底上的栅电极、延伸穿过栅电极的沟道以及延伸穿过栅电极的接触塞。栅电极在基本垂直于基底的上表面的第一方向上堆叠,并且布置为具有阶梯形状,该阶梯形状包括其的在基本平行于上表面的第二方向上的延伸长度从最下面的水平朝向最上面的水平逐渐减小的台阶。在每个栅电极的沿第二方向的端部处的垫具有比所述每个栅电极的其它部分的厚度大的厚度。沟道在第一方向上延伸。接触塞在第一方向上延伸。接触塞接触栅电极之中的第一栅电极的垫以电连接到第一栅电极,并且与栅电极之中的第二栅电极电绝缘。 | ||
搜索关键词: | 栅电极 垂直存储器 接触塞 阶梯形状 延伸穿过 上表面 沟道 基底 延伸 基本平行 逐渐减小 电绝缘 电连接 接触栅 电极 堆叠 制造 垂直 | ||
【主权项】:
1.一种垂直存储器装置,所述垂直存储器装置包括:多个栅电极,位于基底上,所述多个栅电极在基本垂直于基底的上表面的第一方向上堆叠,所述多个栅电极在第二方向上是台阶式的且所述多个栅电极的延伸长度从最下面的水平朝向最上面的水平逐渐减小,第二方向基本平行于基底的上表面,所述多个栅电极在其沿第二方向的端部处包括垫,垫具有比所述多个栅电极中的相应的栅电极的其它部分的厚度大的厚度;沟道,在第一方向上延伸穿过所述多个栅电极;以及接触塞,在第一方向上延伸穿过所述多个栅电极,接触塞接触所述多个栅电极之中的第一栅电极的垫使得垫电连接到接触塞,并且与所述多个栅电极之中的第二栅电极电绝缘。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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