[发明专利]一种形成三维存储器的方法及三维存储器在审

专利信息
申请号: 201910100586.1 申请日: 2019-01-31
公开(公告)号: CN109817627A 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: 肖莉红 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11582
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 骆希聪
地址: 430205 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种形成三维存储器的方法,包括:提供半导体结构,所述半导体结构具有衬底和位于衬底上的堆叠结构,所述堆叠结构具有顶部选择栅极;在所述顶部选择栅极中形成波浪形的顶部选择栅极切线,所述顶部选择栅极切线将所述顶部选择栅极分为多个相互绝缘的区域,以及形成穿过所述堆叠结构的沟道孔和波浪形栅线隙,填充所述沟道孔形成垂直沟道结构,以及形成阵列共源极;其中,所述顶部选择栅极切线位于相邻的所述区域的沟道孔之间。
搜索关键词: 选择栅极 切线 三维存储器 堆叠结构 沟道 半导体结构 波浪形 衬底 垂直沟道结构 共源极 栅线 绝缘 填充 穿过
【主权项】:
1.一种形成三维存储器的方法,包括:提供半导体结构,所述半导体结构具有衬底和位于衬底上的堆叠结构,所述堆叠结构具有顶部选择栅极;在所述顶部选择栅极中形成波浪形的顶部选择栅极切线,所述顶部选择栅极切线将所述顶部选择栅极分为多个相互绝缘的区域,以及形成穿过所述堆叠结构的沟道孔和波浪形栅线隙,填充所述沟道孔形成垂直沟道结构,以及形成阵列共源极;其中,所述顶部选择栅极切线位于相邻的所述区域的沟道孔之间。
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