[发明专利]高光磁环工件视觉检测方法

摘要

本发明涉及视觉检测技术领域，尤其是指一种高光磁环工件视觉检测方法，包括如下步骤，进行图像采集；将采集的图像进行二值化处理，得到高对比度图像；将高对比度图像进行斑点检测算法处理，识别图像中磁环工件的缺陷数量和缺陷位置；对磁环工件的缺陷数量进行判断，若检测的缺陷数量大于等于1则发出提醒信号，若小于1则进入下一步工序；将识别的磁环工件的缺陷数量和缺陷位置转换为可读取数据信息输出，显示器直接显示图像及标识于图像中的缺陷数量和缺陷位置使得作业人员一目了然，其中环形光源与工业相机均设置为可微调结构，便于作业人员根据需要进行调整光源的照射角度和位置以及拍摄的位置，进一步提升灵活性。

主权项

1.高光磁环工件视觉检测方法，其特征在于：包括如下步骤，步骤1：使用工业相机（1）搭配0.8至3倍率的远心镜头（2）以及位于远心镜头（2）正下方的环形光源（3）对磁环工件（4）进行图像采集；步骤2：将采集的图像进行二值化处理，得到高对比度图像；步骤3：将高对比度图像进行斑点检测算法处理，识别图像中磁环工件（4）的缺陷数量和缺陷位置；步骤4：对磁环工件（4）的缺陷数量进行判断，若大于等于1则发出提醒信号，若检测的缺陷数量小于1则进入下一步工序；步骤5：将识别的磁环工件（4）的缺陷数量和缺陷位置转换为可读取数据信息输出。