[发明专利]体积测量装置、扫描检查设备和体积测量方法在审
| 申请号： | 201910108207.3 | 申请日： | 2019-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN109781203A | 公开（公告）日： | 2019-05-21 |
| 发明（设计）人： | 涂俊杰;王永明;喻卫丰;许艳伟;宗春光;胡煜;孙尚民 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司;同方威视科技（北京）有限公司;清华大学 |
| 主分类号： | G01F17/00 | 分类号： | G01F17/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 张靖靖;艾春慧 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种体积测量装置、扫描检查设备和体积测量方法，其中体积测量装置包括：第一测量装置，用于测量沿第一方向每间隔预设时间依次截取的被测物在垂直于第一方向上的各截面的面积，第一方向为第一测量装置与被测物之间发生相对位移的方向；第二测量装置，用于测量在每个预设时间内被测物与第一测量装置之间的相对位移；和体积计算装置，用于根据第一测量装置和第二测量装置的测量结果对各截面面积与对应预设时间内的位移的乘积进行累加求和，以获得被测物的体积。本发明可以对运动的被测物进行测量，对被测物的形状也没有限制，适用范围较广；测量过程减少了人工参与，避免测量精度受人为因素影响，测量结果更加准确和可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 被测物 第一测量 体积测量装置 测量 预设 第二测量 扫描检查 体积测量 相对位移 测量过程 累加求和 人工参与 人为因素 体积计算 截取 垂直 | ||
【主权项】：
1.一种体积测量装置，其特征在于，包括：第一测量装置，用于测量沿第一方向每间隔预设时间依次截取的被测物(4)在垂直于所述第一方向上的各截面的面积，所述第一方向为所述第一测量装置与所述被测物(4)之间发生相对位移的方向；第二测量装置(3)，用于测量在每个所述预设时间内所述被测物(4)与所述第一测量装置之间的相对位移；和体积计算装置，用于根据所述第一测量装置和所述第二测量装置(3)的测量结果对各截面面积与对应所述预设时间内的位移的乘积进行累加求和，以获得所述被测物(4)的体积。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司;同方威视科技（北京）有限公司;清华大学，未经同方威视技术股份有限公司;同方威视科技（北京）有限公司;清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910108207.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
