[发明专利]一种对中装置及其对中测量方法在审

专利信息
申请号: 201910111152.1 申请日: 2019-02-12
公开(公告)号: CN109920567A 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 卫晓春;顾晓建;戚丹鸿;何雅杰;米大为;李延葆;徐杰;梅芳;唐剑锋;杨勋 申请(专利权)人: 上海第一机床厂有限公司
主分类号: G21C17/10 分类号: G21C17/10;G01B11/27
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 翟羽
地址: 201308 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明一种对中装置及其对中测量方法,包括一第一对中模板和一第二对中模板,所述第一对中模板包括一第一对中孔及至少一第一定位孔,所述第二对中模板包括一第二对中孔及至少一第二定位孔,所述第一对中模板通过所述第一定位孔固定在一第一受测物上,所述第二对中模板通过所述第二定位孔固定在一第二受测物上,所述第一对中孔与所述第二对中孔相对设置,通过获取所述第一对中孔与所述第二对中孔的对中度得到所述第一受测物与所述第二受测物的对中度;本发明便捷、高效、精准地测量对中度,适用于需要进行对中测量的物体,提高了工作效率。
搜索关键词: 对中模板 对中孔 定位孔 受测物 对中度 测量 对中装置 工作效率 相对设置
【主权项】:
1.一种对中装置,其特征在于,包括一第一对中模板和一第二对中模板,所述第一对中模板包括一第一对中孔及至少一第一定位孔,所述第二对中模板包括一第二对中孔及至少一第二定位孔,所述第一对中模板通过所述第一定位孔固定在一第一受测物上,所述第二对中模板通过所述第二定位孔固定在一第二受测物上,所述第一对中孔与所述第二对中孔相对设置,通过获取所述第一对中孔与所述第二对中孔的对中度得到所述第一受测物与所述第二受测物的对中度。
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