[发明专利]性能分析方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201910112938.5 | 申请日： | 2019-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN109885442B | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 郭永磊 | 申请（专利权）人： | 上海燧原智能科技有限公司;上海燧原科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种性能分析方法、装置、设备及存储介质。其中，性能分析方法包括：对目标芯片中的多个性能计数器的工作参数进行配置，其中，多个性能计数器中的至少两个性能计数器具有级联关系，且后级性能计数器的计数开始时机和/或计数结束时机由关联的前级性能计数器的计数状态确定；通过多个性能计数器对所述目标芯片的多个待统计事件进行统计，得到计数数据；获取至少一个性能计数器的计数数据，并根据所述计数数据对所述目标芯片的性能进行分析。本发明实施例的技术方案，能够实现性能计数器之间的逻辑组合，克服了现有性能分析工具信息单一的缺陷，实现对芯片性能的综合分析。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 分析 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种性能分析方法，其特征在于，包括：对目标芯片中的多个性能计数器的工作参数进行配置，其中，多个性能计数器中的至少两个性能计数器具有级联关系，且后级性能计数器的计数开始时机和/或计数结束时机由关联的前级性能计数器的计数状态确定；通过多个性能计数器对所述目标芯片的多个待统计事件进行统计，得到计数数据；获取至少一个性能计数器的计数数据，并根据所述计数数据对所述目标芯片的性能进行分析。
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