[发明专利]阻式存储器的误码率测试方法有效
| 申请号： | 201910134609.0 | 申请日： | 2019-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN109859788B | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 赵毅;高世凡;陈冰 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G11C13/00 | 分类号： | G11C13/00;G11C29/42 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 刘静;邱启旺 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阻式存储器的误码率测试方法。存储器的商业化应用需要保证极低的误码率，这一测试需要重复大量的擦写过程并进行分析，从而需要大量的时间，因此对此过程进行加速是有意义的。本发明利用任意波形发生器调节读取波形的长度为特定值，从而在和选取信号在示波器内点积后能够生成一个只包含读取信息的特定波形。这一特定波形允许在调节示波器采样率后滤去读取信息以外的波形，将信息的冗余度降到理论最低值，从而增大了误码率测试的通量。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 误码率 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种阻式存储器的误码率测试方法，其特征在于，所述方法包括：在测试系统中；所述测试系统的任意波形发生器输出为两个信号，分别为存写信号及选取信号；所述测试系统的示波器输入为两个信号，分别为所述存写信号经过阻式存储器的激发电流及所述选取信号；所述示波器的数学通道的数据为所述激发电流和所述选取信号的点积结果；在计算机中，接收点积结果，并进行误码率分析给出误码率。
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