[发明专利]一种检测钛酸锂纯度的方法在审
| 申请号： | 201910135844.X | 申请日： | 2019-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN109752398A | 公开（公告）日： | 2019-05-14 |
| 发明（设计）人： | 邵丹;王媛;唐贤文;骆相宜 | 申请（专利权）人： | 广州能源检测研究院 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N23/2005 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 郭炜绵 |
| 地址： | 511447 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测钛酸锂纯度的方法，该方法包括以下步骤：分别获取待测样品和参比物质的XRD谱图，比对后选取研究峰位；取已知纯度的钛酸锂样品与参比物质、分散溶剂混合，分析计算参比强度值K；将待测样品、参比物质与分散溶剂混合，再采用与步骤(4)相同的方法测定两者的衍射峰积分强度，代入公式(1)，计算出由待测样品与参比物质组成的混合物中LTO组分的含量(Cx)，再根据公式(2)最终计算出待测样品的纯度。本发明方法采用湿法球磨配合超声分散的前处理方法，能够增加混料过程中参比物质与待测物质之间的混合均匀性，有利于提高纯度检测准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 参比 待测样品 钛酸锂 分散溶剂 种检测 混合均匀性 超声分散 纯度检测 分析计算 湿法球磨 物质组成 准确度 混合物 前处理 衍射峰 比对 峰位 混料 配合 研究 | ||
【主权项】：
1.一种检测钛酸锂纯度的方法，其特征在于包括以下步骤：(1)待测样品定性分析：采用X射线粉末衍射仪测试待测LTO样品晶型结构，获得其XRD谱图；(2)参比物质定性分析：采用XRD测试参比物质的晶型结构，获得其XRD谱图；(3)目标特征峰位置的确定：比对LTO和参比物质的XRD谱图，选择衍射峰强度高、且不会重叠影响的峰位为研究对象；(4)参比强度值(K)的确定：取已知纯度的钛酸锂样品与参比物质、分散溶剂混合，分散均匀，并进行球磨，然后烘干；采用XRD测试混合物的衍射图谱，根据步骤(3)中选定的特征峰位置，通过分析软件计算该图谱中已知纯度的LTO样品和参比物质的目标特征衍射峰积分强度，代入公式(1)计算参比强度值K；(5)纯度的测定：将待测样品、参比物质、分散溶剂按与步骤(4)相同的质量比做混合、分散、球磨、烘干；再采用与步骤(4)相同的方法测定两者的衍射峰积分强度，代入公式(1)，计算出由待测样品与参比物质组成的混合物中LTO组分的含量(Cx)，再根据公式(2)最终计算出待测样品的纯度；K＝(CS/CX)×(IX/IS) (1)C＝CX×(m1+m2)/m1 (2)式中：C为待测样品中待测钛酸锂纯度，％；CX为混合样中待测钛酸锂含量，％；CS为混合样中参比物质含量，％；IX为混合样中待测钛酸锂XRD衍射峰积分强度，％；IS为混合样中参比物质XRD衍射峰积分强度，％；K为待测钛酸锂和参比物质强度比值；m1为称取待测物质的质量，g；m2为称取参比物质的质量，g。
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