[发明专利]一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法在审
| 申请号： | 201910147521.2 | 申请日： | 2019-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN109738472A | 公开（公告）日： | 2019-05-10 |
| 发明（设计）人： | 苏建平;郭晓明;乔文韬 | 申请（专利权）人： | 上海精谱科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 吕伴 |
| 地址： | 201806 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，包括如下步骤：步骤一：根据硅溶胶的液体样品的浓度确定样品与固体熔剂的比例；步骤二：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行溶样处理；步骤三：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其浓度指标。本发明改变了X射线荧光分析的传统观念，对硅溶胶液体样品采用高温熔融的方法把液体样品转化成固体样品进行测试，可以实现对硅溶胶液体样品中钠硅等轻元素的准确分析,并可以推广到其它液体样品的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 硅溶胶液体 液体样品 轻元素 测试 工作曲线 熔样 标准样品 测试条件 传统观念 待测样品 高温熔融 固体样品 化学分析 浓度确定 浓度指标 质量确定 硅溶胶 脱模剂 标定 钠硅 熔剂 熔片 溶样 试验 转化 分析 | ||
【主权项】：
1.一种X射线荧光测定硅溶胶液体中轻元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：根据硅溶胶的液体样品的浓度确定样品与固体熔剂的比例；步骤二：根据试验熔片的质量确定熔样温度及熔样时间，脱模剂的种类及数量后进行熔样处理，制得玻璃熔片；步骤三：进一步确定X射线荧光测试条件后，采用已知化学分析的标准样品，按上述所确定的测试方法，进行测试，进行工作曲线标定，后将待测样品代入工作曲线后获得其浓度指标。
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