[发明专利]一种VCSEL阵列结构及其制备方法有效
申请号: | 201910156085.5 | 申请日: | 2019-03-01 |
公开(公告)号: | CN109713566B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 彭钰仁;贾钊;赵炆兼;郭冠军;曹广亮;赵丽 | 申请(专利权)人: | 厦门乾照半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01S5/183 | 分类号: | H01S5/183;H01S5/343 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361001 福建省厦门市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明提供一种VCSEL阵列结构及其制备方法,VCSEL阵列结构包括依次层叠设置的衬底、第一DBR层、有源层、氧化层、蚀刻截止层、第二DBR层、欧姆接触层和电极,还包括至少一个沟槽,所述沟槽自所述电极延伸至所述第二DBR层,至少一个的所述沟槽隔离出两个以上的裸露单元,每个所述裸露单元包括依次层叠设置的所述第二DBR层、欧姆接触层和电极,还包括至少一个与所述沟槽连通的氧化孔,所述氧化孔自所述沟槽延伸至所述蚀刻截止层以暴露出所述氧化层。通过设置蚀刻截止层将蚀刻有效截止在氧化层,既确保了氧化充分,又有效避免了因有源层外露导致的失效、老化等问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 vcsel 阵列 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种VCSEL阵列结构,其特征在于,包括依次层叠设置的衬底、第一DBR层、有源层、氧化层、蚀刻截止层、第二DBR层、欧姆接触层和电极,还包括至少一个沟槽,所述沟槽自所述电极延伸至所述第二DBR层,至少一个的所述沟槽隔离出两个以上的裸露单元,每个所述裸露单元包括依次层叠设置的所述第二DBR层、欧姆接触层和电极,还包括至少一个与所述沟槽连通的氧化孔,所述氧化孔自所述沟槽延伸至所述蚀刻截止层以暴露出所述氧化层。
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