[发明专利]用于系统级测试的可扩展平台在审

专利信息
申请号: 201910163802.7 申请日: 2019-03-05
公开(公告)号: CN110232015A 公开(公告)日: 2019-09-13
发明(设计)人: 罗兰·沃尔夫;梅-梅·苏;本·罗杰尔-法维拉 申请(专利权)人: 爱德万测试公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 宗晓斌
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 本公开涉及用于系统级测试的可扩展平台。一种可扩展测试平台可以包括多个不同设备接口板和多个基元中的一个或多个。不同设备接口板可以被配置为提供统一接口以将不同类型的DUT和/或具有不同形状因子的DUT耦合到多个基元。该多个基元可以被配置为将功率分配给DUT,并执行相应DUT的系统级测试。该多个基元可以由用户配置,以对多个不同类型的DUT和/或具有不同形状因子的DUT执行任何数量的系统级测试。
搜索关键词: 系统级测试 基元 可扩展 设备接口板 形状因子 测试平台 功率分配 统一接口 用户配置 耦合到 配置
【主权项】:
1.一种测试平台,包括:多个设备接口板(DIB);多个基元,所述多个基元被配置为将功率分配给耦合到设备接口板(DIB)的被测设备(DUT),并且执行对耦合到所述设备接口板(DIB)的所述被测设备(DUT)的用户可配置系统级测试;一个或多个基元机架,所述一个或多个基元机架被配置为模块化地容纳所述多个基元;主机控制器,所述主机控制器被配置为在所述多个基元上安装、配置和管理所述用户可配置系统级测试的性能;背板,所述背板被配置为将所述主机控制器耦合到所述多个基元并将功率耦合到所述多个基元。
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