[发明专利]一种晶圆生产集质检与修复一体的光刻胶涂敷检测装置有效

专利信息
申请号: 201910165723.X 申请日: 2019-03-06
公开(公告)号: CN110034035B 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 周淑英;黄梅玉;骆伟秋;饶榕琦 申请(专利权)人: 重庆慧聚成江信息技术合伙企业(有限合伙)
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L21/67;H01L21/027
代理公司: 成都佳划信知识产权代理有限公司 51266 代理人: 幸伟山
地址: 404100 重庆市*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种晶圆生产集质检与修复一体的光刻胶涂敷检测装置,其结构包括检测机、显示屏、一体质检仓、检修仓,所述检测机嵌装有显示屏,所述检测机安装有一体质检仓,所述检测机装设有检修仓,所述一体质检仓由透明玻璃、仓口、涂敷结构、质检结构组成,所述透明玻璃与仓口胶连接,所述涂敷结构锁定在仓口上,所述仓口安装有质检结构,本发明晶圆胶膜通过质检结构实现上端180度的半旋转扫描、扫描旋架实现底端的扫描、边缘扫描架通过扫描旋架的旋转对晶圆胶膜进行对边缘扫描,若扫描出产品缺陷后直接通过仓口进行加胶或减胶(旋转涂敷),既省去了人工成本又提高了检测效率和产品质量。
搜索关键词: 一种 生产 质检 修复 一体 光刻 胶涂敷 检测 装置
【主权项】:
1.一种晶圆生产集质检与修复一体的光刻胶涂敷检测装置,其结构包括检测机(1)、显示屏(2)、一体质检仓(3)、检修仓(4),所述检测机(1)嵌装有显示屏(2),所述检测机(1)安装有一体质检仓(3),所述检测机(1)装设有检修仓(4),其特征在于:所述一体质检仓(3)由透明玻璃(30)、仓口(31)、涂敷结构(32)、质检结构(33)组成,所述透明玻璃(30)与仓口(31)胶连接,所述涂敷结构(32)锁定在仓口(31)上,所述仓口(31)安装有质检结构(33)。
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