[发明专利]一种测试板及测试板的制作方法在审
申请号: | 201910168301.8 | 申请日: | 2019-03-06 |
公开(公告)号: | CN109696620A | 公开(公告)日: | 2019-04-30 |
发明(设计)人: | 叶旭阳;程剑涛;杜黎明;孙洪军 | 申请(专利权)人: | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 钱娜;王宝筠 |
地址: | 201199 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种测试板,包括有测试母板以及测试子板,其中,测试母板上印制有第一精度电路,测试子板上印制有第二精度电路,第一精度电路的精度低于第二精度电路的精度,且在测试母板上印制第一精度电路的工艺精度低于在测试子板上印制第二精度电路的工艺精度,测试母板与测试子板相连接,且第一精度电路与第二精度电路相连。与现有技术相比,本发明将测试电路区分为高精度电路以及低精度电路,对于高精度电路,使用工艺精度较高的加工工艺对其进行印制,然而对于低精度电路,可以使用工艺精度较低的加工工艺对其进行印制,从而降低测试板的整体加工成本。 | ||
搜索关键词: | 电路 测试母板 测试子板 印制 测试板 高精度电路 整体加工成本 测试电路 制作 | ||
【主权项】:
1.一种测试板,其特征在于,包括:测试母板以及测试子板;所述测试母板上印制有第一精度电路,所述测试子板上印制有第二精度电路;其中,第一精度电路的精度低于第二精度电路的精度,且在测试母板上印制第一精度电路的工艺精度低于在测试子板上印制第二精度电路的工艺精度;所述测试母板与所述测试子板相连接,且所述第一精度电路与所述第二精度电路相连。
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