[发明专利]一种感知处理器NBTI效应延时的检测电路及其方法有效
| 申请号： | 201910175608.0 | 申请日： | 2019-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN109766233B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 虞致国;刘帅;顾晓峰;魏敬和 | 申请（专利权）人： | 江南大学 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G01R31/26 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 曹祖良 |
| 地址： | 214122 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明属于高性能处理器可靠性领域，涉及一种感知处理器NBTI效应延时的检测电路，包括老化探测模块及老化测量模块，其特征在于，所述老化探测模块的输入端与处理器关键路径的输出端连接，所述老化探测模块的输出端通过多路复用器与老化测量模块的输入端连接，所述老化测量模块的输出端输出处理器关键路径的延时量；本发明通过老化探测模块将处理器关键路径输出的信号翻转信息转换为脉冲信号，通过老化测量模块对该脉冲信号进行处理计算，测量出关键路径的延时量，能够准确的反映出处理器具体的老化状态，为防护提供细粒度的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 感知 处理器 nbti 效应 延时 检测 电路 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种感知处理器NBTI效应延时的检测电路，包括老化探测模块（1）及老化测量模块（2），其特征在于，所述老化探测模块（1）的输入端与处理器关键路径的输出端连接，所述老化探测模块（1）的输出端通过两个多路复用器（3）与老化测量模块（2）的输入端连接，所述老化测量模块（2）的输出端输出处理器关键路径的延时量。
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