[发明专利]一种集成电路测试设备实时温度监控系统及方法在审
| 申请号： | 201910185390.7 | 申请日： | 2019-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN109959862A | 公开（公告）日： | 2019-07-02 |
| 发明（设计）人： | 钟丹彪;钟锋浩 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 刘正君 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市滨江区江淑*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种集成电路测试设备实时温度监控系统及方法。解决现有技术中过高温度影响测试设备的稳定性和精度，导致测试产生偏差，造成严重后果的问题。系统包括主机端和测试端，测试端包括若干温度检测单元和温度解析单元，温度检测单元分别与温度解析单元连接，温度解析单元与主机端连接。主机端实时读取温度数据，在温度值高于预警阈值时，进行报警，在温度值高于停测阈值时，进行报警并停止当前测试。本发明能够监控集成电路测试设备内部温度，同时能够在温度过高情况下进行报警，并可以强制停止测试，克服了因测试设备内部散热不及时，测试设备内部温度过高，导致测试设备的测试稳定性下降与测试精度产生偏移的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试设备 解析单元 主机端 测试 集成电路测试设备 实时温度监控 温度检测单元 温度过高 测试端 阈值时 报警 监控集成电路 测试稳定性 强制停止 实时读取 温度数据 温度影响 偏移 散热 预警 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试设备实时温度监控系统，其特征在于：包括主机端和测试端，测试端包括若干检测集成电路测试设备内部温度的温度检测单元和温度解析单元，温度检测单元分别与温度解析单元连接，温度解析单元与主机端连接；主机端：实时读取温度数据，在温度值高于预警阈值时，进行报警，在温度值高于停测阈值时，进行报警并停止当前测试。
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