[发明专利]一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法在审
申请号: | 201910191075.5 | 申请日: | 2019-03-12 |
公开(公告)号: | CN109827528A | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 史洪源;权祥林;周鹏 | 申请(专利权)人: | 西安航空职业技术学院 |
主分类号: | G01B15/00 | 分类号: | G01B15/00;G01B15/02 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710089 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法,通过对被测铸件和标准试块进行透照,获得被测铸件底片和标准试块底片后,利用黑白密度计测定获取标准试块的黑度值、被测铸件底片缺陷位置的黑度值和被测铸件底片缺陷位置相邻的无缺陷位置的黑度值,本发明的标准试块的黑度值对应标准试块相应位置的厚度;通过对比确定与被测铸件的缺陷处黑度值相同的标准试块的黑度值所对应的厚度,对比确定与被测铸件的缺陷位置相邻的无缺陷处黑度值相同的标准试块的黑度值所对应的厚度,最后对标准试块的这两个厚度做差,得到的差值结果即为铸件缺陷沿厚度方向尺寸。本发明可以判断出大型铸件内部存在的缺陷沿射线透照方向的尺寸。 | ||
搜索关键词: | 标准试块 黑度 铸件 缺陷位置 底片 铸件缺陷 缺陷处 透照 差值结果 大型铸件 密度计 射线 | ||
【主权项】:
1.一种铸件缺陷沿厚度方向的尺寸的测定方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1.对被测铸件和标准试块进行透照,获得被测铸件底片和标准试块底片;步骤2.根据步骤1获得的被测铸件底片、标准试块底片获取所述标准试块的黑度值、被测铸件的黑度值,所述标准试块的黑度值对应所述标准试块相应位置的厚度;步骤3.将所述标准试块的黑度值与被测铸件的黑度值进行对比,根据所述标准试块各部位厚度与黑度值的对应关系确定所述被测铸件的缺陷沿厚度方向的尺寸。
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