[发明专利]一种光纤几何参数测试装置在审
| 申请号： | 201910197332.6 | 申请日： | 2019-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN109900215A | 公开（公告）日： | 2019-06-18 |
| 发明（设计）人： | 吴杰;颜信;刘锐 | 申请（专利权）人： | 武汉睿芯特种光纤有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/08 | 分类号： | G01B11/08;G01B11/27;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 刘杰 |
| 地址： | 430075 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供的一种光纤几何参数测试装置，包括：单波长光源；照明系统；第一三维精密位移台，所述第一三维精密位移台位于所述照明系统之后；第二三维精密位移台，所述第二三维精密位移台与所述第一三维精密位移台为间隔预设距离排布，固定所述待测光纤的第二端；物镜，所述物镜接收从所述待测光纤中射出的单波长光斑并对其进行放大；光电成像系统，所述光电成像系统对所述单波长光斑进行成像。解决了现有技术中光纤几何尺寸测量只能检测常规包层通信用光纤，在特种光纤领域几何参数测量中不能满足光路结构要求的技术问题。达到了给各种不同尺寸结构的特种光纤成像，满足大芯径光纤几何参数测量所需技术条件的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 精密位移台 三维 光电成像系统 光纤几何参数 几何参数测量 光斑 测试装置 待测光纤 特种光纤 照明系统 单波长 物镜 成像 大芯径光纤 单波长光源 通信用光纤 尺寸测量 尺寸结构 光路结构 光纤几何 技术条件 技术效果 预设距离 包层 排布 射出 放大 检测 | ||
【主权项】：
1.一种光纤几何参数测试装置，其特征在于，所述装置包括：单波长光源，所述单波长光源发射出平行单波长光束；照明模块，所述照明系统设置在所述单波长光源发射光束方向位置；第一三维精密位移台，，用于固定待测光纤的第一端，所述平行单波长光束入射至所述待测光纤的第一端；第二三维精密位移台，所述第二三维精密位移台与所述第一三维精密位移台位于同一平面上，且与所述第一三维精密位移台间隔预设距离排布，用于固定所述待测光纤的第二端，并使得所述待测光纤处于弯曲状态；物镜，所述物镜用于接收从所述待测光纤的第二端射出的单波长光束并对所述单波长光束对应的光斑进行放大；光电成像模块，所述光电成像系统与所述物镜耦合，用于对所述物镜出射的放大后的单波长光束进行成像，并基于成像得到的图像信息得到所述待测光纤的几何参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉睿芯特种光纤有限责任公司，未经武汉睿芯特种光纤有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910197332.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种建筑工地施工用抹灰面厚度实时监测仪
- 下一篇：一种刀柄直径非接触测量检具
