[发明专利]一种基于SIFT特征的GIS设备X射线图像故障检测方法有效
| 申请号： | 201910204447.3 | 申请日： | 2019-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN109948629B | 公开（公告）日： | 2020-03-24 |
| 发明（设计）人： | 李波;高正浩;谢百明;唐超;张国林;周海;邱开金;张晓春;涂静鑫;杨方;胡东 | 申请（专利权）人： | 贵州电网有限责任公司 |
| 主分类号： | G06K9/46 | 分类号： | G06K9/46;G06T5/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/33;G01N23/04 |
| 代理公司： | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人： | 商小川 |
| 地址： | 550002 贵*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于SIFT特征的GIS设备X射线图像故障检测方法，所述方法包括：S1、获取GIS设备正常X射线图像和待测X射线图像；S2、分别提取正常X射线图像和待测X射线图像的SIFT特征，统计相同SIFT特征点的位置；S3、利用相同SIFT特征点对待测X射线图像和正常X射线图像进行图像配准；S4、对配准后的待测X射线图像与正常X射线图像进行图像分块；S5、利用SIFT特征计算待测X射线图像与正常X射线图像相同图像分块的相似度，当相似度大于设定的相似阈值时，则判定该图像分块有故障。本发明使用SIFT特征对GIS设备X射线图像既进行配准又进行故障智能诊断，可以提高检测的自动化水平，为人工检测提供参考，提高故障诊断的准确性、快速性，实现智能诊断。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 sift 特征 gis 设备 射线 图像 故障 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于SIFT特征的GIS设备X射线图像故障检测方法，所述方法包括：S1、获取GIS设备正常X射线图像和待测X射线图像；S2、分别提取正常X射线图像和待测X射线图像的SIFT特征，统计相同SIFT特征点的位置；S3、利用相同SIFT特征点对待测X射线图像和正常X射线图像进行图像配准；S4、对配准后的待测X射线图像与正常X射线图像进行图像分块；S5、利用SIFT特征计算待测X射线图像与正常X射线图像相同图像分块的相似度，当相似度大于设定的相似阈值时，则判定该图像分块有故障。
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