[发明专利]一种基于高通量测序的IGH基因重排检测方法有效

专利信息
申请号: 201910239234.4 申请日: 2019-03-27
公开(公告)号: CN109929924B 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 曹金良;齐善康;崔展飞;康晓婷 申请(专利权)人: 上海科医联创医学检验所有限公司
主分类号: C12Q1/6869 分类号: C12Q1/6869;C12Q1/6886;C12N15/11
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 200120 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于高通量测序的IGH基因重排检测方法,其包括:根据已知的IGH基因序列设计及合成扩增引物,对扩增片段进行多重扩增反应,获得IGH扩增引物;对IGH扩增产物进行纯化,并进行末端修饰;将修饰后的扩增产物与高通量测序平台的接头进行连接并进行连接修复、纯化,得到高通量测序文库;上机测序及数据分析;其中,所述扩增引物包括设计位置分别位于FR1、FR2和FR3区域的正向引物和设计位置位于J区的反向引物。本发明还涉及用于IGH基因重排的高通量测序检测的试剂盒和系统。本发明采用高通量测序的手段检测IGH基因重排,可以极大的提高检测灵敏度及准确性,并且可以准确地得到单克隆序列信息,具有广泛的应用前景。
搜索关键词: 一种 基于 通量 igh 基因 重排 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于高通量测序的IGH基因重排检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1)根据已知的IGH基因序列,设计及合成扩增引物;步骤2)采用扩增引物对扩增片段进行多重扩增反应,获得IGH扩增引物;步骤3)对IGH扩增产物进行纯化,并对纯化后的产物进行末端修饰;步骤4)将修饰后的扩增产物与高通量测序平台的接头进行连接并进行连接修复,对连接修复产物进行纯化,得到高通量测序文库;步骤5)将高通量测序文库上机测序及数据分析;其中,所述扩增引物包括正向引物和反向引物,所述正向引物的设计位置分别位于FR1、FR2和FR3区域,所述反向引物的设计位置位于保守区J区。
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