[发明专利]一种测量系统及方法在审
| 申请号： | 201910245738.7 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN110057548A | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | 曾庆坤;龚辉;谭立平;王平成;石露林;吕张勇;蒋峰 | 申请（专利权）人： | 苏州创鑫激光科技有限公司;深圳市创鑫激光股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 215152 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供了一种测量系统及测量方法，包括控制模块以及与控制模块相连的漏光检测模块；所述漏光检测模块用于对待测器件进行漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到所述控制模块；所述控制模块用于控制所述漏光检测模块工作，并接收所述漏光检测模块发送的漏光数据。本发明实现自动化测试，测试的准确性高，测试效率快。 | ||
| 搜索关键词： | 漏光 检测模块 控制模块 测量系统 自动化测试 测试效率 数据发 检测 测量 发送 测试 | ||
【主权项】：
1.一种测量系统，其特征在于，包括控制模块以及与所述控制模块相连的漏光检测模块；所述漏光检测模块，用于对待测器件进行漏光检测，并将检测到的漏光数据发送到所述控制模块；所述控制模块，用于控制所述漏光检测模块工作，并接收所述漏光检测模块发送的漏光数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州创鑫激光科技有限公司;深圳市创鑫激光股份有限公司，未经苏州创鑫激光科技有限公司;深圳市创鑫激光股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910245738.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：评价透明基体的光学特性的方法
- 下一篇：一种光源照度检测方法及系统
