[发明专利]应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置有效
| 申请号： | 201910247459.4 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN109827759B | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 董会 | 申请（专利权）人： | 歌尔光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 261031 山东省潍坊市高新区东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置，所述光学模组包括采集单元与显示单元，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：控制所述光学模组的所述显示单元显示所述图卡；获取所述图卡的图卡图像；所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息。本申请提供一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置，旨在解决现有技术中无法准确对光学模组的透明或半透明缺陷进行检测，容易出现透明或半透明缺陷漏检的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 光学 模组 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述光学模组包括采集单元与显示单元，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：控制所述光学模组的所述显示单元显示图卡；获取所述图卡的图卡图像；所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息。
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