[发明专利]小数分频锁相环锁定检测方法及其系统有效

专利信息
申请号: 201910257380.X 申请日: 2019-04-01
公开(公告)号: CN109936365B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 蒋德军 申请(专利权)人: 上海安路信息科技有限公司
主分类号: H03L7/18 分类号: H03L7/18;H03L7/187
代理公司: 上海一平知识产权代理有限公司 31266 代理人: 须一平;成春荣
地址: 200080 上海市虹口区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请涉及集成电路领域,公开了一种小数分频锁相环锁定检测方法及其系统。该方法包括用该压控振荡器输出的第一时钟对输入该锁相环的参考时钟进行采样后得到采样信号,其中该第一时钟频率高于该参考时钟;将该采样信号作为基准时钟,采样计算N个基准时钟周期内的该分频器的计数器的过零状态值和计数值,所述计数值是在所述N个基准时钟周期内所述第一时钟的周期个数,其中N≥1;以及根据该过零状态值和该分频器的输入分频比确定该锁相环的锁定状态。本申请实施方式中对小数锁相环锁定状态检测的检测速度快、准确率高。
搜索关键词: 小数 分频 锁相环 锁定 检测 方法 及其 系统
【主权项】:
1.一种小数分频锁相环锁定检测方法,所述锁相环包括压控振荡器和计数器模式分频器,其特征在于,所述方法包括:用所述压控振荡器输出的第一时钟对输入所述锁相环的参考时钟进行采样后得到采样信号,其中所述第一时钟频率高于所述参考时钟;将所述采样信号作为基准时钟,采样计算N个基准时钟周期内的所述分频器的计数器的过零状态值和计数值,所述计数值是在所述N个基准时钟周期内所述第一时钟的周期个数,其中N≥1;根据所述过零状态值和计数值,以及所述分频器的输入分频比判断所述锁相环的锁定状态。
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