[发明专利]一种荧光高光谱测试系统有效

专利信息
申请号: 201910261976.7 申请日: 2019-04-02
公开(公告)号: CN110160651B 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 陈兴海;刘业林;黄智辉;黄宇;王金龙;于金科 申请(专利权)人: 江苏双利合谱科技有限公司
主分类号: G01J3/44 分类号: G01J3/44;G01J3/02
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人: 邹敏菲
地址: 214000 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种荧光高光谱测试系统,本发明属于高光谱测试技术领域,涉及一种荧光高光谱测试系统。本发明的一种荧光高光谱测试系统,其光线依次通过第一聚焦透镜、光波导、激发滤光片组、导光管、第二聚焦透镜、反射镜、样品台、发射滤光片组,最后被高光谱相机捕捉,可为荧光高光谱成像提供较大面积的照射光斑,并使光线均匀的照射在样品上,增加成像效果,且避免了入射光直接照射样品带来损坏的问题,且光路互不影响,提高了检测的准确性;还可快速完成氙灯光源和卤素光源的切换,提高了工作效率。
搜索关键词: 一种 荧光 光谱 测试 系统
【主权项】:
1.一种荧光高光谱测试系统,其特征在于:包括样品箱(11)和光源,所述光源包括氙灯光源(1)和卤素光源(13),所述氙灯光源(1)位于样品箱(11)外,所述卤素光源(13)位于样品箱(11)的内壁上;所述样品箱(11)内的顶部设置有高光谱相机(10),所述高光谱相机(10)连接有发射滤光片组(12),所述样品箱(11)的下部设置有样品台(15);所述样品箱(11)设置有反射镜(9)和第一角度调节支架,所述反射镜(9)通过第一角度调节支架固定在样品箱(11)的顶部;还包括光波导(4)和匀光装置,所述匀光装置包括第一聚焦透镜(2)、第二聚焦透镜(7)、导光管(6)、激发滤光片组(5),所述光波导(4)的入光口和氙灯光源(1)的出光口相对设置,所述第一聚焦透镜(2)位于氙灯光源(1)的出光口处,所述导光管(6)的一端与光波导(4)的出光口连接,另一端与第二聚焦透镜(7)连接,所述第二聚焦透镜(7)与反射镜(9)的镜面相对设置。
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