[发明专利]用于集成电路测试设备的电触头及集成电路测试设备在审
| 申请号： | 201910265751.9 | 申请日： | 2019-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN110673012A | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 方维空;郭科新;沙马尔·穆迪亚斯;李英凯 | 申请（专利权）人： | 杰冯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 32260 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 顾一明 |
| 地址： | 马来西亚雪兰莪八打灵再也哥打白沙*** | 国省代码： | 马来西亚;MY |
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| 摘要： | 一种用于集成电路测试设备的电触头，电触头具有细长导电接触引脚，细长导电接触引脚具有在接触引脚的内端处向上的接触尖端以及允许接触引脚在测试期间从一侧到另一侧摆动和滑动的弯曲底表面。一种具有“P”形横截面的细长可压缩构件，包括：“垂直部分”，其是所谓的字母“P”形状的上部弯曲部分，适于紧密配合在接触引脚顶部上的向上凹陷部内；以及“水平部分”，其是所谓的字母“P”形的主干或垂直线，定位在所述接触引脚的下顶表面和插座顶盖之间并与其接触。 | ||
| 搜索关键词： | 接触引脚 导电接触 电触头 引脚 集成电路测试设备 可压缩构件 测试期间 插座顶盖 接触尖端 紧密配合 向上凹陷 形横截面 滑动 垂直线 顶表面 摆动 内端 主干 垂直 | ||
【主权项】：
1.一种用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于,电触头包括：/n带插座顶盖(32)的插座外壳(30)；/n成排布置的多个接触引脚(10)，每个接触引脚包括弯曲的底表面(12)、与向上的凹陷部(15)相邻的下顶表面(14)、上顶表面(16)和接触尖端(18)；/n由垂直部分(22)和水平部分(24)形成的细长可压缩构件(20)，垂直部分(22)设计成使得每个向上的凹陷部(15)紧密配合在其周围，并且水平部分(24)的底表面(242)与下顶表面(14)齐平接触，并且水平部分的顶表面(244)与插座顶盖(32)的一部分接触。/n
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