[发明专利]应用于基板的AOI检测方法、装置、存储介质及AOI检测设备有效
| 申请号： | 201910284384.7 | 申请日： | 2019-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN110109945B | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 游景文;李和平;唐胜望;李晨杰;杨联海;王继宇 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/245 | 分类号： | G06F16/245;G01N21/84 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种应用于基板的AOI检测方法、装置、存储介质及AOI检测设备，应用于AOI检测设备中，所述方法包括以下步骤：获取大基板上的多个小阵列基板的分布信息，所述分布信息包括每一所述小阵列基板的尺寸信息以及位置信息；根据所述尺寸信息查询数据库以获取每一所述小阵列基板对应的目标检测精度值；根据所述多个小阵列基板的位置信息控制所述AOI检测设备的检测头依次检测所述多个小阵列基板，其中，所述检测设备在检测任一所述小阵列基板时采用与所述小阵列基板对应的目标检测精度值。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 aoi 检测 方法 装置 存储 介质 设备 | ||
【主权项】：
1.一种应用于基板的AOI检测方法，应用于AOI检测设备中，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取大基板上的多个小阵列基板的分布信息，所述分布信息包括每一所述小基板的尺寸信息以及位置信息；根据所述尺寸信息查询数据库以获取每一所述小阵列基板对应的目标检测精度值；根据所述多个小阵列基板的位置信息控制所述AOI检测设备的检测头依次检测所述多个小阵列基板，其中，所述检测设备在检测任一所述小阵列基板时采用与所述小阵列基板对应的目标检测精度值。
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