[发明专利]一种器件寿命测试平台与系统在审
| 申请号： | 201910289747.6 | 申请日： | 2019-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN109975682A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 姜南;李成果;刘宁炀;黎子兰;王巧 | 申请（专利权）人： | 广东省半导体产业技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 崔振 |
| 地址： | 510000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提出一种器件寿命测试平台与系统，涉及器件检测技术领域。该器件寿命测试平台包括测试工作区、测试数据处理区以及测试数据采集区，测试工作区用于放置待检测器件，测试数据处理区与的测试工作区电连接，以向待检测器件输出正向或反向控制信号，测试数据采集区与测试工作区电连接，且用于获取待检测器件的正向或者反向电压，并将获取的正向或者反向电压传输至测试数据处理区，测试数据处理区用于当正向或者反向电压达到与预设定的电压值时，控制待检测器件间断的导通，直至待检测器件老化，以测试出待检测器件的寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 待检测器件 测试数据处理 正向 测试 测试平台 反向电压 器件寿命 测试数据采集 电连接 反向控制信号 器件检测 预设定 导通 老化 传输 输出 | ||
【主权项】：
1.一种器件寿命测试平台，其特征在于，所述器件寿命测试平台包括测试工作区、测试数据处理区以及测试数据采集区，所述测试工作区用于放置待检测器件，所述测试数据处理区与所述的测试工作区电连接，以向所述待检测器件输出正向或反向控制信号，所述测试数据采集区与所述测试工作区电连接；所述测试数据采集区用于获取所述待检测器件的正向或者反向电压，并将获取的所述正向或者反向电压传输至所述测试数据处理区；所述测试数据处理区用于当所述正向或者反向电压达到与预设定的电压值时，控制所述待检测器件间断的导通，直至所述待检测器件老化，以测试出所述待检测器件的寿命。
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