[发明专利]自动测试设备ATE中异步测试周期的自适应计算方法

摘要

本发明公开了一种自动测试设备ATE中异步测试周期的自适应计算方法，其步骤包括：1.由仿真电路自适应计算ATE所需设置异步测试周期的总流程；2.利用历史数据建立数据库与待测试的电路模型对比的结果，优化测试周期计算的时间；3.根据可选测试周期的个数，自主选择贪心算法或Kth‑Root算法高效计算测试周期；4.利用反馈机制自适应调节模型比较阈值A。本发明能在计算最佳ATE所需设置的异步测试周期的准确度和计算时间之间取到良好的折衷方案，从而能减少ATE的测试时间，降低集成电路的测试成本。

主权项

1.一种自动测试设备ATE中异步测试周期的自适应计算方法，其特征是按如下步骤进行：步骤1、定义变量为w，并初始化w＝1；步骤2、从EDA设计软件中获取第w个仿真电路，得到所述第w个仿真电路最大额定功率约束P_power和最大结构功率约束P_stu；从所述最大额定功率约束P_power和最大结构功率约束P_stu选取较大值作为测试功率P；再将所述第w个仿真电路导入电路分析软件中，得到所述第w个仿真电路在测试过程的第i个周期内消耗的能量E_i,w；i＝1,2,…,N，N表示周期总个数；步骤3、利用式(1)得到第w个仿真电路在第i个周期内的测试时间T_i,w，从而得到第w个仿真电路在N个周期内的测试时间集合{T_i，,w|i＝1,2,…,N}；步骤4、将所述N个周期内的测试时间集合{T_i，,w|i＝1,2,…,N}进行归一化处理后降序排序，得到预处理后的测试时间集合{T′_i,w|i＝1,2,…,N}；T′_i,w表示预处理后的第w个仿真电路在第i个周期内的测试时间；步骤5、设置第w个仿真电路的最优测试周期的总个数为M_w，且M_w≤N；第w个仿真电路的任意第j个最优测试周期记为K_j,w，且K_j,w∈{T_i,w|i＝1,2,…,N}，K_j,w≤自动测试设备ATE的最小工作周期；j＝1,2,…,M_w；M_w≤自动测试设备ATE的所能设置的工作周期最大个数；步骤6、若前w‑1个仿真电路中能选出与第w个仿真电路的最优测试周期总个数M_w相同的Y个仿真电路，则将第w个仿真电路预处理后的测试时间集合{T′_i，w|i＝1,2,…,N}分别与Y个仿真电路预处理后的测试时间集合进行方差计算，得到的方差结果除以周期总个数N后得到单位方差，得到Y个单位方差，并执行步骤7；若Y＝0，则表示第w个仿真电路为新的一种类型电路，并执行步骤13‑步骤16；步骤7、判断是否存在第s个单位方差小于等于单位方差阈值A，若存在，则表示第w个仿真电路与第s个单位方差所对应的仿真电路属于同一种类型的电路，并选取最小单位方差所对应的仿真电路作为匹配电路best，并执行步骤8‑步骤12；否则，表示第w个仿真电路为新的一种类型电路，并执行步骤13‑步骤16；其中，s＝1,2,…,Y；步骤8、获取匹配电路best的测试周期集合{K_r,best|r＝1,2,…,M_best}，并从第w个仿真电路的预处理后的测试时间集合{T′_i,w|i＝1,2,…,N}中找到第r个周期所对应的测试时间T′_r,w；步骤9、利用局部搜索算法对所找到的第r个周期所对应的测试时间T′_r,w的上下区间进行计算，得到第r个最优测试周期K_r,w；从而得到第w个仿真电路的M_best个最优测试周期集合{K_r,w|r＝1,2,…,M_best}；步骤10、利用式(2)得到第w个仿真电路的总测试时间Time_w：式(2)中，n_r,w表示在测试时间集合{T_i，,w|i＝1,2,…,N}中满足第w个仿真电路的第r个最优测试周期K_r,w的测试周期个数；步骤11、从所述第w个仿真电路的N个周期内的测试时间集合{T_i，,w|i＝1,2,…,N}中选取最大值并与N相乘得到同步测试时间TT_w，再利用式(3)得到时间减少率R：步骤12、判断R是否小于期望时间减少率阈值B；若小于，则保持单位方差阈值A不变；并得到第w个仿真电路的测试周期集合{K_j,w|j＝1,2,…,M_w}；否则，调整所述单位方差阈值A后执行步骤13‑步骤16；步骤13、定义正整数C，C≤N；步骤14、判断M_w＞C是否成立，若成立，则执行步骤15；否则，执行步骤16；步骤15、将测试周期的总数M_w和测试时间集合{T_i，,w|i＝1,2,…,N}作Kth‑Root算法的输入，从而得到第w个仿真电路的测试周期集合{K_j,w|j＝1,2,…,M_w}；步骤16、将测试周期的总数M_w和测试时间集合{T_i，,w|i＝1,2,…,N}作为贪心算法的输入，从而得到第w个仿真电路的测试周期集合{K_j,w|j＝1,2,…,M_w}。