[发明专利]基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法有效
| 申请号： | 201910312347.2 | 申请日： | 2019-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN110109787B | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 李志宁;石骁;赵寅初 | 申请（专利权）人： | 记忆科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 冯筠 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区蛇口街道蛇*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。通过本测试方法，可提前预知低功耗的进出是否会导致固态硬盘过早磨穿。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 模拟 固态 硬盘 功耗 状态 存储 颗粒 消耗 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，所述方法包括：获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。
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