[发明专利]一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201910318212.7 申请日: 2019-04-19
公开(公告)号: CN110118644A 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 陈玉;姚凯;孙冠姝;阿森·阿什法克;葛维春;罗桓桓;周桂平;于晶;郭毅;伏丽娜 申请(专利权)人: 西安交通大学;国网辽宁省电力有限公司;上海电缆研究所有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置及方法,该装置包括光纤微弯模型和光功率计等;测试时,微弯模型设置在位移平台上,待测单模光纤穿过光纤微弯模型,位移平台控制器用于调节位移平台的位移大小,使得单模光纤夹在位移平台的固定端和活动端之间;单模光纤的两端通过光纤跳线分别与光源和光功率计相连接,利用位移平台的移动,得到不同的光功率,并存储在电脑上。本发明通过3D打印技术对多种微弯模型进行精确制作,解决了现有的微弯测试的方法难以实现精确度、高效性、重复性问题;通过电脑控制位移平台与微弯模型的配合移动,对单模光纤进行不同精确度的挤压,达到不同微弯的效果,解决了现有技术缺少实验和理论依据的技术问题。
搜索关键词: 位移平台 微弯 单模光纤 测试 光纤微弯损耗 光功率计 光纤微弯 重复性问题 电脑控制 光纤跳线 模型设置 控制器 高效性 固定端 光功率 活动端 移动 光源 打印 挤压 存储 穿过 制作 电脑 配合
【主权项】:
1.一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置,其特征在于,包括光纤微弯模型(1)、位移平台(2)、待测单模光纤(3)、光纤跳线(4)、位移平台控制器(5)、光源(6)和光功率计(7);其中,测试时,光纤微弯模型(1)设置在位移平台(2)上,待测单模光纤(3)穿过光纤微弯模型(1),位移平台控制器(5)用于调节位移平台(2)的位移大小,使得待测单模光纤(3)夹在位移平台(2)的固定端和活动端之间;待测单模光纤(3)的两端通过光纤跳线(4)分别与光源(6)和光功率计(7)相连接,利用位移平台(2)的移动,使待测单模光纤(3)产生不同的微弯形变,采用光功率计(7)测量得到不同微弯条件下的光功率,并存储在电脑上。
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