[发明专利]平均辐射温度计算方法及系统、可读存储介质在审
| 申请号： | 201910327353.5 | 申请日： | 2019-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN110162837A | 公开（公告）日： | 2019-08-23 |
| 发明（设计）人： | 薛雪 | 申请（专利权）人： | 北京汉能光伏技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 覃婧婵 |
| 地址： | 101499 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种平均辐射温度计算方法，适用于安装有透光光伏组件的室内环境，包括：获取透光光伏组件的背光面温度，获取检测区域的辐照度，根据背光面温度和辐照度，计算所述透光光伏组件的等效表面温度，获取所述检测区域的空间温度和表面积，根据所述检测区域的空间温度、所述检测区域的表面积和所述透光光伏组件的等效表面温度，计算所述检测区域的平均辐射温度。本发明实施例在对检测区域进行平均辐射温度计算时，只需要获取透光光伏组件的背光面温度、检测区域的辐照度、检测区域的空间温度和表面积，就能够根据获取的数据进行平均辐射温度计算，不需要进行物理建模，计算复杂度低，且只需要根据获取的数据进行计算，耗时短，结果准确。 | ||
| 搜索关键词： | 检测区域 光伏组件 透光 温度计算 背光面 辐照度 辐射 可读存储介质 计算复杂度 室内环境 物理建模 耗时 | ||
【主权项】：
1.一种平均辐射温度计算方法，适用于安装有透光光伏组件的室内环境，其特征在于，包括：获取所述透光光伏组件的背光面温度；获取检测区域的辐照度；根据所述背光面温度和所述辐照度，计算所述透光光伏组件的等效表面温度；获取所述检测区域的空间温度和表面积，根据所述检测区域的空间温度、所述检测区域的表面积和所述透光光伏组件的等效表面温度，计算所述检测区域的平均辐射温度。
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