[发明专利]一种芯片测试装置及方法在审
| 申请号： | 201910343623.1 | 申请日： | 2019-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN110187256A | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 郭观水;刘志赟 | 申请（专利权）人： | 深圳市致宸信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R19/25;G05F1/46;G05B19/042 |
| 代理公司： | 深圳市鼎圣智荟知识产权代理事务所(普通合伙) 44604 | 代理人： | 胡国英 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试装置及方法，该芯片测试装置包括测试基板和测试座，所述测试基板包括供电模块、电压检测模块和电压管理模块，所述测试座上可放置待测芯片；所述芯片测试装置中的供电模块能为所述待测芯片提供各种类型、大小的电压，使所述待测芯片能在所述芯片测试装置中进行多方位测试；另外，在待测芯片的测试过程，所述电压检测模块能检测所述待测芯片两端的实时电压，所述供电模块能基于所述实时电压和所述电压管理模块对待测芯片两端的供电电压进行实时调节，以使所述待测芯片两端的电压保持恒定，保证了待测芯片在所述芯片测试装置的测试效果。 | ||
| 搜索关键词： | 待测芯片 芯片测试装置 供电模块 电压管理模块 电压检测模块 测试基板 实时电压 测试座 电压保持恒定 测试过程 测试效果 供电电压 实时调节 芯片两端 测试 检测 保证 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置包括测试基板和测试座，所述测试座上放置有待测芯片；所述待测芯片包括第一输入引脚和第一输出引脚，以及第二输入引脚和第二输出引脚；所述测试基板包括供电模块、电压检测模块和电压管理模块；所述供电模块包括供电模块输出端、供电模块输入端和供电模块信号输入端，所述供电模块输出端与所述第一输入引脚电连接，所述第一输出引脚与所述供电模块输入端电连接；所述电压检测模块包括电压检测模块输出端、电压检测模块输入端和电压检测模块信号输出端，所述电压检测模块输出端与所述第二输入引脚电连接，所述第二输出引脚与所述电压检测模块输入端电连接；所述电压管理模块包括电压管理模块信号输入端和电压管理模块信号输出端，所述电压检测模块信号输出端与所述电压管理模块信号输入端电连接，所述电压管理模块信号输出端与所述供电模块信号输入端电连接。
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