[发明专利]一种原位精确测量薄膜材料的微量磨损量的机构在审
| 申请号： | 201910355192.0 | 申请日： | 2019-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN110243274A | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 刘美华;王东爱;王怀文;石岩;刘冰;张文刚 | 申请（专利权）人： | 天津商业大学;天津乾宇超硬科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人： | 徐金生 |
| 地址： | 300134 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种原位精确测量薄膜材料的微量磨损量的机构，包括垂直分布的立柱(7)；立柱(7)的上部，与一根水平轴(3)的右端相铰接；水平轴(3)能够围绕立柱(7)的上部，在水平方向进行旋转运动；水平轴(3)的左端固定连接有一个位移传感器(1)；位移传感器(1)通过其下方的探针(4)，用于对放置在其正下方的薄膜材料，在磨损前和磨损后分别进行测量，获得薄膜材料表面在磨损前后的厚度变化量，该厚度变化量作为薄膜材料的磨损量。本发明能够测量被测材料在磨损前后的厚度变化量，并通过将该厚度变化量作为磨损量，从而能够更加准确、可靠地比较评价摩擦性能接近、耐磨性差异小的两种不同薄膜材料的耐磨性能。 | ||
| 搜索关键词： | 厚度变化量 磨损 薄膜材料 立柱 位移传感器 测量薄膜 微量磨损 磨损量 测量 薄膜材料表面 耐磨性 被测材料 比较评价 垂直分布 摩擦性能 耐磨性能 铰接 探针 左端 | ||
【主权项】：
1.一种原位精确测量薄膜材料的微量磨损量的机构，其特征在于，包括垂直分布的立柱(7)；立柱(7)的上部，与一根水平轴(3)的右端相铰接；水平轴(3)能够围绕立柱(7)的上部，在水平方向进行旋转运动；水平轴(3)的左端固定连接有一个位移传感器(1)；位移传感器(1)，用于对放置在其正下方的薄膜材料，在磨损前和磨损后分别进行测量，获得薄膜材料表面在磨损前后的厚度变化量，该厚度变化量作为薄膜材料的磨损量。
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