[发明专利]单元寿命服从威布尔分布时k/n(G)系统的剩余寿命预测方法有效
| 申请号： | 201910373949.9 | 申请日： | 2019-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN110096820B | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 贾祥;程志君 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06Q10/04;G06Q50/04;G06F17/15;G06F17/18;G06F119/04 |
| 代理公司： | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人： | 邱轶 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提供一种单元寿命服从威布尔分布时k/n(G)系统的剩余寿命预测方法，首先随机抽取N个k/n(G)系统组成单元的样品进行寿命试验，获得各样品的失效时间，估计各样本的失效时间的失效概率；基于水平误差函数计算k/n(G)系统组成单元寿命分布参数的点估计；根据k/n(G)系统组成单元寿命分布参数的点估计预测k/n(G)系统的剩余寿命。本发明通过上述步骤很好地解决了单元寿命服从威布尔分布时k/n(G)系统的剩余寿命预测问题，且步骤简单，结果清晰，易于操作。 | ||
| 搜索关键词： | 单元 寿命 服从 布尔 分布 系统 剩余 预测 方法 | ||
【主权项】：
1.单元寿命服从威布尔分布时k/n(G)系统的剩余寿命预测方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)随机抽取N个k/n(G)系统组成单元的样品进行寿命试验，获得各样品的失效时间，其中N≥2；(2)估计各样本的失效时间的失效概率；(3)基于水平误差函数计算k/n(G)系统组成单元寿命分布参数的点估计；(4)根据k/n(G)系统组成单元寿命分布参数的点估计预测k/n(G)系统的剩余寿命。
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