[发明专利]存储装置测试系统及存储装置测试方法在审
| 申请号： | 201910378754.3 | 申请日： | 2019-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN111698362A | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 游嘉伟 | 申请（专利权）人： | 点序科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04M1/24 | 分类号： | H04M1/24 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 罗英;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾新竹市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本公开提出一种存储装置测试系统及存储装置测试方法。存储装置测试系统包括：电子装置，包括处理器及耦接到处理器的内部存储装置；以及外部存储装置，耦接到电子装置的处理器。处理器接收测试脚本并执行测试脚本以对内部存储装置进行测试操作。处理器将对应测试操作的测试记录文件传送到外部存储装置。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 装置 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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