[发明专利]基于张量的非局部自相似和低秩正则的张量修复方法在审

专利信息
申请号: 201910379660.8 申请日: 2019-05-05
公开(公告)号: CN110223243A 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: 李晓彤 申请(专利权)人: 李晓彤
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 成都市鼎宏恒业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51248 代理人: 魏敏
地址: 610000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于张量的非局部自相似和低秩正则的张量修复方法,包括以下步骤:S1:建立张量模型;S2:根据临近算子函数优化目标函数并对张量模型进行求解;S3:利用秩增长策略进行迭代求解。利用即插即用框架,设计了一个非显式的非局部自相似正则来促进张量的细节恢复。并设计了基于块连续上界下降法的模型求解算法。数值实验表明我们所提出的模型NLS‑LR在恢复目标张量的结构、轮廓和细节等方面具有很明显的优势,实验结果展示我们的模型在视觉效果和评价指标上均超过很多现有主流方法。
搜索关键词: 非局部 求解 低秩 优化目标函数 修复 恢复目标 即插即用 模型求解 评价指标 视觉效果 数值实验 算子函数 细节恢复 下降法 迭代 上界 显式 算法 主流 展示
【主权项】:
1.一种基于张量的非局部自相似和低秩正则的张量修复方法,其特征在于:包括以下步骤:S1:建立张量模型;S2:根据临近算子函数优化目标函数并对张量模型进行求解;S3:利用秩增长策略进行迭代求解。
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