[发明专利]薄膜电晶体及其制作方法有效
申请号: | 201910383608.X | 申请日: | 2019-05-09 |
公开(公告)号: | CN110085520B | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 谭志威 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/786;H01L29/10 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种薄膜电晶体和其制作方法,包括:在一补底基板形成栅级层、绝缘层、非晶硅层、金属层、铜导线层以及光阻层。在制作有源层之前先对所述光阻层进行干刻蚀,形成一底部为所述铜导线层之沟道,同时使所述光阻层之边缘与所述金属层之边缘切齐,防止所述光阻层阻碍刻蚀气体对所述有源层刻蚀,提高了薄膜电晶体之开口率以及良率。在所述沟道处形成一氧化保护层,防止所述铜导线层与刻蚀气体反应形成化合物,使得后续能够得到较干净的沟道,提高了薄膜电晶体之良率。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 电晶体 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜电晶体的制作方法,所述方法包括:步驟1、在一衬底基板上设置栅极层、绝缘层、非晶硅层、金属层、铜导线层及光阻层;步驟2、对第一区域外之所述铜导线层及所述金属层进行湿刻蚀;步驟3、对所述光阻层进行干刻蚀,形成一底部为所述铜导线层之沟道;步驟4、对所述非晶硅层进行干刻蚀,形成有源层;步驟5、对所述沟道处之所述铜导线层和所述金属层进行湿刻蚀,形成源漏极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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