[发明专利]薄膜电晶体及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201910383608.X 申请日: 2019-05-09
公开(公告)号: CN110085520B 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 谭志威 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/786;H01L29/10
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种薄膜电晶体和其制作方法,包括:在一补底基板形成栅级层、绝缘层、非晶硅层、金属层、铜导线层以及光阻层。在制作有源层之前先对所述光阻层进行干刻蚀,形成一底部为所述铜导线层之沟道,同时使所述光阻层之边缘与所述金属层之边缘切齐,防止所述光阻层阻碍刻蚀气体对所述有源层刻蚀,提高了薄膜电晶体之开口率以及良率。在所述沟道处形成一氧化保护层,防止所述铜导线层与刻蚀气体反应形成化合物,使得后续能够得到较干净的沟道,提高了薄膜电晶体之良率。
搜索关键词: 薄膜 电晶体 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种薄膜电晶体的制作方法,所述方法包括:步驟1、在一衬底基板上设置栅极层、绝缘层、非晶硅层、金属层、铜导线层及光阻层;步驟2、对第一区域外之所述铜导线层及所述金属层进行湿刻蚀;步驟3、对所述光阻层进行干刻蚀,形成一底部为所述铜导线层之沟道;步驟4、对所述非晶硅层进行干刻蚀,形成有源层;步驟5、对所述沟道处之所述铜导线层和所述金属层进行湿刻蚀,形成源漏极。
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