[发明专利]三维半导体存储器装置在审

专利信息
申请号: 201910387764.3 申请日: 2019-05-10
公开(公告)号: CN110739315A 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 孙荣晥;姜书求;姜信焕 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11556 分类号: H01L27/11556;H01L27/11582;H01L29/10;H01L29/423
代理公司: 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 尹淑梅;陈晓博
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供一种三维半导体存储器装置。所述三维半导体存储器装置包括:栅电极和模制绝缘层,交替地堆叠在基底上;沟道层,贯穿栅电极和模制绝缘层;以及栅极介电层,位于栅电极与沟道层之间。栅极介电层和沟道层可以位于基底的上部中,并且可以以第一角度弯曲且在基底的上部中在模制绝缘层下方延伸。
搜索关键词: 模制绝缘层 沟道层 栅电极 基底 三维半导体存储器 栅极介电层 角度弯曲 堆叠 贯穿 延伸
【主权项】:
1.一种三维半导体存储器装置,所述三维半导体存储器装置包括:/n栅电极和模制绝缘层,交替地堆叠在基底上;/n沟道层,贯穿所述栅电极和所述模制绝缘层;以及/n栅极介电层,位于所述栅电极与所述沟道层之间,/n其中,所述栅极介电层和所述沟道层位于所述基底的上部中,以第一角度弯曲,并且在所述基底的所述上部中在所述模制绝缘层下方延伸。/n
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