[发明专利]一种低压零功耗CMOS上电检测电路在审
申请号: | 201910389480.8 | 申请日: | 2019-05-08 |
公开(公告)号: | CN110007132A | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 庄在龙 | 申请(专利权)人: | 南京芯耐特半导体有限公司 |
主分类号: | G01R19/165 | 分类号: | G01R19/165;G06F1/24;H03K17/22 |
代理公司: | 南京聚匠知识产权代理有限公司 32339 | 代理人: | 刘囝 |
地址: | 211800 江苏省南京市浦口区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种低压零功耗CMOS上电检测电路,包括电容Cp、NMOS器件NM1、RS触发器、一级反相器I3、分压模块、整形模块、二级反相器I4、对地延迟电容C1、三级反相器。本发明采用PM1和电阻R1的分压的结构,可以在低电压下,实现上电电平的检测,同时PM2和C1产生的延迟,可以帮助快速检测电源上电情况下,产生足够逻辑电路复位的延迟区间;NM1帮助在正常工作状态下,避免产生静态电流消耗,做到无静态功耗的启动电路,适用于低压,低功耗的集成电路芯片应用。 | ||
搜索关键词: | 上电检测电路 零功耗 上电 延迟 集成电路芯片 静态电流消耗 正常工作状态 二级反相器 三级反相器 一级反相器 分压模块 静态功耗 快速检测 启动电路 延迟电容 整形模块 电容 低电压 低功耗 复位 电阻 分压 电源 帮助 检测 应用 | ||
【主权项】:
1.一种低压零功耗CMOS上电检测电路,用于检测电源VDD的变化,其特征在于,包括:电容Cp,连接电源VDD,输出电压Vp;NMOS器件NM1,与电容Cp串联;RS触发器,接收Vp和NM1栅极电压;一级反相器I3,输入端与RS触发器的输出端相连;分压模块,由NMOS器件NM2、电阻R1以及PMOS器件PM1串联而成,输出电压Vq;整形模块,由NMOS器件NM3和PMOS器件PM2并联而成;二级反相器I4,输入端与整形模块串联,输出端输出电压Va,并与NM1的栅极相连;对地延迟电容C1,一端与二级反相器I4输出端串联,另一端接地;三级反相器,由I5和I6串联而成,输入电压Va,输出s_porb。
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