[发明专利]一种渐晕图像校正的方法、装置、电子设备和存储介质有效
| 申请号： | 201910400402.3 | 申请日： | 2019-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN110111284B | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 刘凯;周思羽;龚俊;胡子阳;许斌 | 申请（专利权）人： | 四川大学 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 宋朋飞 |
| 地址： | 610000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种渐晕图像校正的方法、装置、电子设备和存储介质，属于图像处理技术领域。该方法包括：获取待校正的渐晕图像；基于所述渐晕图像与校正图像的换算公式计算在满足预设约束条件下的不同校正参数对应下的校正图像的对数强度熵；从计算出的校正图像的对数强度熵中选取不小于预设阈值且最小的对数强度熵，作为目标对数强度熵；将基于所述目标对数强度熵对应的校正参数求得的校正图像作为目标校正图像。在本申请实施例中，该方法在对渐晕图像的校正中，在现有采用最小化对数强度熵对渐晕图像进行校正的约束条件下增加了一个预设阈值作为约束条件，防止出现图像过度校正的情况，进而提高了渐晕图像校正的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 图像 校正 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种渐晕图像校正的方法，其特征在于，包括：获取待校正的渐晕图像；基于所述渐晕图像与校正图像的换算公式计算在满足预设约束条件下的不同校正参数对应下的校正图像的对数强度熵；从计算出的校正图像的对数强度熵中选取不小于预设阈值且最小的对数强度熵，作为目标对数强度熵；将基于所述目标对数强度熵对应的校正参数求得的校正图像作为目标校正图像。
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