[发明专利]一种用于集成电路的保持时间违反的修复方法和装置在审

专利信息
申请号: 201910400539.9 申请日: 2019-05-15
公开(公告)号: CN111046618A 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 陈静;颜峻 申请(专利权)人: 中科威发半导体(苏州)有限公司
主分类号: G06F30/3312 分类号: G06F30/3312;G06F30/38;G06F115/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 212009 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种用于集成电路的保持时间违反的修复方法和装置,所述修复方法包括以下步骤:获取M条存在保持时间违反的时序路径,其中,任意两条时序路径的终点单元均不相同,M为自然数;获取M条时序路径中全部单元以及每个单元的出现次数,获取出现次数最多的第一单元;对第一单元的时间违反进行修复处理。从而提供了一种速度快、且插入缓冲单元数量少的保持时间违反的修复方法和装置。
搜索关键词: 一种 用于 集成电路 保持 时间 违反 修复 方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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