[发明专利]CdSe/CdS量子点共振光散射法测定DNA含量的方法

摘要

本发明公开了一种CdSe/CdS量子点共振光散射法测定DNA含量的方法，其基于CdSe/CdS量子点共振瑞利散射法（Resonance Rayleigh Scattering,RRS）测定DNA含量，取CdSe/CdS量子点配制成1.5×10‑3mol/L的溶液，再与以脱氧核糖核酸样品及PBS缓冲液混合；用荧光分光光度计，扫描范围为250~800nm条件下各供试液的荧光光谱，并根据荧光强度变化与DNA浓度的线性关系绘制标准工作曲线；以取待检测液检测的ΔIRRS；再根据标准工作曲线获得待检测液中的DNA浓度。该方法可简单、快速、准确测定样品的DNA含量，以应用于DNA的定量分析等方面。

主权项

1.一种CdSe/CdS量子点共振光散射法测定DNA含量的方法，其特征在于包括以下步骤：（1）取CdSe/CdS量子点配制成1.5×10‑3mol/L的溶液，4℃保存备用；（2）以脱氧核糖核酸样品配制成低浓度至高浓度的标准溶液若干份，记录标准溶液中DNA的浓度， 4℃保存备用；（3）将pH=8.0，浓度为0.05mol/L的PBS缓冲液，1mL 5×10‑5mol/L CdSe/CdS量子点溶液分别与0.2~1mL不同浓度的标准溶液混合，配制成3mL体系，摇匀并放置8~12min，作为供试液；（4）另取1.0mLCdSe/CdS量子点溶液与2.0mL PBS缓冲液混匀后，摇匀并放置与供试液相同时间，作为空白液；（5）25℃的条件下，用荧光分光光度计，设置激发波长为260nm，发射波长为505nm，激发狭缝宽度及发射狭缝宽度分别为5nm和10nm处，扫描范围为250~800nm条件下各供试液的荧光光谱，记录共振瑞利散射光谱图的变化，在最大共振瑞利散射峰处分别测量CdSe/CdS的I0和CdSe/CdS‑DNA的IRRS，并且计算得到ΔIRRS=I0‑IRRS；其中I0为未加DNA前的荧光强度， IRRS为加入DNA后的荧光强度；（6）以DNA浓度为横坐标，DNA荧光强度ΔIRRS为纵坐标绘制标准工作曲线；（7）取待检测液，重复步骤（3）和（5），检测并计算其ΔIRRS；再根据步骤（6）的标准工作曲线获得待检测液中的DNA浓度。