[发明专利]一种中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 201910438727.0 | 申请日： | 2019-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN110244343A | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 钱铁威 | 申请（专利权）人： | 钱铁威 |
| 主分类号： | G01T3/06 | 分类号： | G01T3/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 311800 浙江省绍兴*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法，包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机，所述壳体为密闭壳体，中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束，所述的闪烁体可转动的设置在壳体内，所述的电机用于驱动闪烁体，中子发生源朝向闪烁体的入射面设置，光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件，光纤对应连接闪烁体设置，若干个光检测元件对应连接光纤设置，光检测元件与微处理器连接。 | ||
| 搜索关键词： | 闪烁体 光检测元件 发生源 脉冲周期测试 光检测器 体内 壳体 束流 电机 光纤 微处理器连接 测试 连接光纤 密闭壳体 微处理器 可转动 入射面 中子束 驱动 发射 | ||
【主权项】：
1.一种中子束流的脉冲周期测试装置，其特征在于：包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机，所述壳体为密闭壳体，中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束，所述的闪烁体可转动的设置在壳体内，所述的电机用于驱动闪烁体，中子发生源朝向闪烁体的入射面设置，光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件，光纤对应连接闪烁体设置，若干个光检测元件对应连接光纤设置，光检测元件与微处理器连接。
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