[发明专利]一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质在审
| 申请号： | 201910451397.9 | 申请日： | 2019-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN110161555A | 公开（公告）日： | 2019-08-23 |
| 发明（设计）人： | 彭云;丁亮;吕广志 | 申请（专利权）人： | 深圳市菲森科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00;G01T1/02 |
| 代理公司： | 深圳市华优知识产权代理事务所(普通合伙) 44319 | 代理人： | 余薇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于X射线探测器自动化技术领域，提供了一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质，方法包括：获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。通过控制不同的X射线剂量点并曝光，控制所述探测器采集一组暗场图像集和多组不同X射线剂量点的亮场图像集，并基于采集到的图像集生成对应的校正模板，最后使用上述校正模板自动校正探测器，提高了X射线探测器校正的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 亮场 暗场图像 图像集 探测器 暗场 存储介质 自动化技术领域 采集 自动校正 曝光 | ||
【主权项】：
1.一种X射线探测器校正方法，其特征在于，包括：获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。
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