[发明专利]位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备有效
申请号: | 201910459425.1 | 申请日: | 2019-05-29 |
公开(公告)号: | CN110174391B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 骆磊 | 申请(专利权)人: | 深圳前海达闼云端智能科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65;G06F17/16 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 魏云鹿 |
地址: | 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本公开涉及一种位置偏移的修正方法、装置、存储介质和电子设备,应用于物质检测设备,该方法包括:若物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变,获取待测物质的位移信息,根据检测位置对应的第一坐标组和位移信息,确定检测位置对应的第二坐标组,检测位置为在待测物质上预设的检测轨迹,或预设数量个检测点,根据第二坐标组,更新物质检测设备中与检测位置对应的转动参数组,根据更新后的转动参数组对待测物质进行检测。本公开能够在物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变时,及时地更新检测位置对应的转动参数组,使物质检测设备能够准确地对检测位置进行检测,提高了物质检测的准确性和适应性。 | ||
搜索关键词: | 位置 偏移 修正 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种位置偏移的修正方法,其特征在于,应用于物质检测设备,所述方法包括:若所述物质检测设备与待测物质之间的相对位置发生改变,获取所述待测物质的位移信息;根据检测位置对应的第一坐标组和所述位移信息,确定所述检测位置对应的第二坐标组,所述检测位置为在所述待测物质上预设的检测轨迹,或预设数量个检测点;根据所述第二坐标组,更新所述物质检测设备中与所述检测位置对应的转动参数组;根据更新后的所述转动参数组对所述待测物质进行检测。
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