[发明专利]光器件测试装置在审
| 申请号： | 201910461319.7 | 申请日： | 2019-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN110174247A | 公开（公告）日： | 2019-08-27 |
| 发明（设计）人： | 庄礼杰;刘兴;张雄辉;潘双收 | 申请（专利权）人： | 深圳市亚派光电器件有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/04 | 分类号： | G01M11/04 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 518101 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，其特征在于，所述光器件测试装置包括：导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间，以及温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。本发明提出的光器件测试装置能够提升光器件跟踪误差测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 光器件 光器件测试 导热组件 限位槽 定位件 跟踪误差 温控组件 测试光 可活动 抵接 内壁 伸入 外壁 容纳 测试 | ||
【主权项】：
1.一种光器件测试装置，用于测试光器件的跟踪误差，其特征在于，所述光器件测试装置包括：导热组件，形成至少一个限位槽，所述光器件至少部分容纳于所述限位槽内；定位件，可活动地设于所述导热组件，所述定位件至少部分伸入所述限位槽内，并与所述光器件的外壁抵接，以使所述光器件定位于所述定位件与所述限位槽的内壁之间；以及温控组件，设于所述导热组件，所述温控组件用于调节所述导热组件的温度，以改变所述光器件的工作温度。
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