[发明专利]一种TIADC系统失配误差校准方法、装置、设备及介质

摘要

本公开提供了一种TIADC系统失配误差校准方法，涉及信号处理技术领域，包括：计算各子ADC通道的直流偏置失配误差、增益失配误差和时钟相位失配误差，计算各子ADC通道的重构增益参数、重构直流参数和重构相位参数，各子ADC通道的信号数据与重构增益参数的乘积加上重构直流参数，得到各子ADC通道的信号数据修正数据，将各子ADC通道的信号数据修正数据拼合并做滤波处理，将拼合的数据加上滤波波形数据与重构相位参数的乘积，得到最终修正的模拟信号的数据。本公开还提供了一种TIADC系统失配误差校准装置、设备及介质。本公开提出的方法将修正TIADC失配误差的计算形式统一，降低了计算过程中对DSP资源的消耗，同时降低了对DSP的功能多样性的要求。

主权项

1.一种TIADC系统失配误差校准方法，其特征在于，方法包括：S1，计算一个标准正弦信号在TIADC系统的各子ADC通道中传输和被采样时产生的直流偏置失配误差、增益失配误差和时钟相位失配误差；S2，基于所述直流偏置失配误差、增益失配误差和时钟相位失配误差，计算所述各子ADC通道的重构增益参数、重构直流参数和重构相位参数；S3，当模拟信号输入所述TIADC系统时，采集所述各子ADC通道的信号数据，所述各子ADC通道的信号数据与相应的所述重构增益参数的乘积加上相应的所述重构直流参数，得到所述各子ADC通道的信号数据相应的修正数据；S4，将所述各子ADC通道的信号数据相应的修正数据拼合，得到TIADC波形数据，将所述TIADC波形数据进行滤波处理，得到滤波波形数据，所述TIADC波形数据加上所述滤波波形数据与相应的所述重构相位参数的乘积，得到最终修正的所述模拟信号的数据。