[发明专利]一种位姿检测方法、系统及装置在审
申请号: | 201910464937.7 | 申请日: | 2019-05-30 |
公开(公告)号: | CN110175999A | 公开(公告)日: | 2019-08-27 |
发明(设计)人: | 管贻生;张凯富;黎奕辉;黄岩;林一炯;张兆龙;刘均发 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/70;G06K9/46 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 510060 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请公开了一种位姿检测方法,包括接收异形电子元件的图像与PCB板的图像;对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行预处理得到目标对象;对所述目标对象进行特征筛选得到特征集;对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合,并根据边缘轮廓拟合后的连通域计算得到所述异形电子元件及所述PCB板的位姿。该位姿检测方法能够准确高效检测异形电子元件以及PCB板的位姿,为异形电子元件插装提供准确的数据基础。本申请还公开了一种位姿检测系统、装置以及计算机可读存储介质,均具有上述技术效果。 | ||
搜索关键词: | 异形 位姿检测 图像 边缘轮廓 目标对象 拟合 位姿 计算机可读存储介质 预处理 连通域计算 系统及装置 高效检测 技术效果 数据基础 特征筛选 连通域 特征集 插装 申请 | ||
【主权项】:
1.一种位姿检测方法,其特征在于,包括:接收异形电子元件的图像与PCB板的图像;对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行预处理得到目标对象;对所述目标对象进行特征筛选得到特征集;对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合,并根据边缘轮廓拟合后的连通域计算得到所述异形电子元件及所述PCB板的位姿。
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